DM2500
MMEDXRF輕中元素光(guang)譜儀
(通用型)
多單色(se)激發實現高峰背比,使能測元素(B~Zn),
其準確度(du)媲(pi)美大型波長色散光譜儀
通用(yong)型滿足各(ge)行各(ge)業任何種(zhong)類
物料元素濃度的測量要(yao)求
采用
多單色激發能(neng)量色散X射線熒光(MMEDXRF)分析技術(shu)
對數螺線型雙曲面(mian)彎晶(LSDCC)實現衍射并作為二次靶(ba)
高(gao)(gao)計(ji)數率、高(gao)(gao)分辨率、高(gao)(gao)透過率(AP3.3窗(chuang))SDD探測器
電(dian)壓(ya)、電流、靶材完(wan)美組合的微焦斑薄鈹窗(chuang)X射線管源
符合標準(zhun)
GB/T3286.11
GB/T4333.5
YS/T63.16
GB/T24198
GB/T24231
GB/T34534
GB/T176
JB/T11145
JC/T1085
等
概(gai)述(shu)
DM2500MMEDXRF輕中元(yuan)素光(guang)譜(pu)儀,詳稱DM2500多單色激發能量色散(san)X射線(xian)熒(ying)光輕中元素(B~Zn)光譜儀,是本公司集(ji)數十年X熒光光譜儀的研究(jiu)經(jing)驗,在公(gong)司(si)原有的DM系列X熒光硫鈣鐵分析儀、X熒光多元素分析(xi)儀、X熒光光譜儀等的(de)基礎上研制推出的(de)一(yi)種具創新(xin)性的(de)XRF光(guang)譜儀。它采(cai)用多單色激發(fa)能量色散X射線熒光(guang)(MMEDXRF) ( Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技(ji)術。主要(yao)部件,如:單(dan)色晶(jing)體采用(yong)本公(gong)司研(yan)制的具有本公(gong)司專利的對(dui)數螺線旋(xuan)轉點(dian)對(dui)點(dian)聚焦(jiao)鍺單(dan)色晶(jing)體,X射(she)線(xian)管采用(yong)KeyWay公司生產的50W微焦(jiao)點(dian)大輻射角(jiao)薄(bo)鈹窗X射線管,并對(dui)其高壓、電流、靶材(cai)進(jin)行(xing)最佳組(zu)合, X射線探測器采用德國Ketek公司生產(chan)的具(ju)有高(gao)(gao)計數率(lv)、高(gao)(gao)能量(liang)分辨率(lv)、高(gao)(gao)透過率(lv)的常溫用SDD半導(dao)體X射線(xian)探(tan)測(ce)器。并且采(cai)用(yong)具(ju)有(you)本(ben)公司(si)自主知識(shi)產權(quan)的輕元素專用(yong)的光學系統及多(duo)種方法(fa)組合使用(yong)的多(duo)個(ge)單色激發系統等獨(du)有(you)的技術,極大地提(ti)高(gao)了儀器的靈敏度(du)和峰背比。它還采用X射(she)線向(xiang)下照射(she)系統(tong),樣(yang)品自旋裝(zhuang)置,特別適合粉末(mo)壓(ya)片樣(yang)品,且可根據應用選擇真(zhen)空系統(tong)或自充氣系統(tong)。由(you)此使本(ben)光(guang)譜儀達(da)到國際(ji)領先水平。在與大型(xing)波長色散(san)光(guang)譜儀的比較試驗中,其大部(bu)分性(xing)能指標接近(jin)或達(da)到大型(xing)波長色散(san)光(guang)譜儀的性(xing)能指標,某些甚(shen)至超過。其(qi)性能指標相比進(jin)口同類產品更好,而(er)價格(ge)(ge)僅為進(jin)口同類產品的(de)一半,具有無可(ke)比擬的(de)價格(ge)(ge)性能比。另外國內(nei)企業售后服務的(de)方(fang)便程度是國外企業所無法(fa)相比的(de)。且本光譜儀良好的(de)屏蔽防(fang)護設(she)計保證無任(ren)何射線泄漏,滿足輻射(she)豁免(mian)要求。
適(shi)用范圍
DM2500MEDXRF輕(qing)中元素光譜儀可用(yong)(yong)于各(ge)(ge)行各(ge)(ge)業(ye)所(suo)有物(wu)料的含(han)量測(ce)(ce)量。無論(lun)環保、冶金、化工(gong)、地質、礦山、電(dian)子電(dian)氣、食(shi)品等(deng)各(ge)(ge)行業(ye),還是壓片(pian)、熔片(pian)、液體等(deng)各(ge)(ge)類型樣品,只(zhi)要(yao)用(yong)(yong)戶所(suo)要(yao)求的測(ce)(ce)量元素在B(5)~Zn(30)的范圍內(nei),DM2500都能進行(xing)準確測量。其符合幾乎(hu)所有元素測定(ding)XRF光譜法標(biao)準的(de)相關(guan)要求,如:國家或行(xing)業標(biao)準GB/T 176—2017《水泥化學分(fen)析方法》、GB/T3286.11-2022《石(shi)(shi)灰(hui)石(shi)(shi)及白云(yun)石(shi)(shi)化學(xue)分析方法 第(di)11部(bu)分:氧(yang)化(hua)鈣、氧(yang)化(hua)鎂、二(er)氧(yang)化(hua)硅(gui)、氧(yang)化(hua)鋁及(ji)氧(yang)化(hua)鐵含量(liang)的測定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)》、GB/T4333.5-2016《 硅鐵(tie) 硅、錳(meng)、鋁、鈣(gai)、鉻(ge)和鐵(tie)含量的(de)測定(ding) 波長色散X-射線(xian)熒(ying)光光譜法(熔鑄玻璃片法)》、YS/T63.16—2019《鋁用碳素(su)材料檢測方法 第16部分:元素含量的測(ce)定(ding) 波長色散X射線熒(ying)光(guang)光(guang)譜分析(xi)方法(fa)》、GB/T24198-2009《鎳鐵.鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻(ge)和(he)銅含量的測(ce)定(ding).波長色散(san)X射線熒光光譜法(常規法(fa))》等。其(qi)還符合行業標(biao)準JC/T1085—2008《水泥用(yong)X射線熒光分析儀(yi)》、JB/T11145—2011《X射線熒光(guang)光(guang)譜儀》。
如貴用戶對某(mou)些元素(su)的(de)測量有特殊的(de)要求,則本公司可根據用戶的(de)要求更改單色激發系統(tong)(tong)和或軟件系統(tong)(tong)以(yi)滿足用戶對測量元素(su)的(de)要求。
特點
快速同時–所需測(ce)量(liang)元(yuan)素(su)同時快速分(fen)析,一般幾(ji)十秒(miao)給(gei)出含量(liang)結果。
高(gao)準確度–采(cai)用先進MMEDXRF技(ji)術,LSDCC核心技術(shu),根據所(suo)要測量(liang)(liang)的(de)(de)(de)元素(su)來選擇單色光的(de)(de)(de)能量(liang)(liang)及產(chan)生(sheng)單色光的(de)(de)(de)方法(fa),極大地提(ti)高(gao)了儀器的(de)(de)(de)靈(ling)敏度和峰背比(bi),具(ju)出色的(de)(de)(de)重復性(xing)和再現性(xing),極高(gao)的(de)(de)(de)準確度。
向下照射(she)–采用X射線向下照(zhao)射系統(tong),杜絕了樣(yang)品(pin)粉(fen)(fen)末(mo)污染損壞探測系統(tong)的(de)可能,特別(bie)適合粉(fen)(fen)末(mo)壓片(pian)樣(yang)品(pin)。
樣(yang)品自旋(xuan)–具(ju)有樣(yang)品自旋裝置,消(xiao)除了(le)壓片(pian)樣(yang)品中由于特硬物質(zhi)的存在而不(bu)易粉(fen)碎(sui)造成的樣(yang)品不(bu)均勻性。
長期穩定(ding)–采用可變增益數字(zi)多道,有PHA自動調整、漂移校正、偏(pian)差修(xiu)正等功能,具極好的長期穩(wen)定(ding)性。
環(huan)保(bao)節能–射線防(fang)護達豁(huo)免(mian)要求。分析時不(bu)(bu)接觸(chu)不(bu)(bu)破壞樣品,無污染,無需(xu)化(hua)學(xue)試劑,也不(bu)(bu)需(xu)要燃(ran)燒。
使用方便(bian)–觸摸屏操(cao)作。樣品粉碎壓片(pian)放入儀器(qi)后只需(xu)按[啟動]鍵(jian)即可,真(zhen)正實現一鍵(jian)操(cao)作(zuo)。
高可靠性–一體化設計,集成化程度(du)高,環境適(shi)應能(neng)力(li)強,抗干擾能(neng)力(li)強,可靠(kao)性(xing)高。
高性價比–無需鋼瓶氣體,運(yun)行維護成(cheng)本極低。價(jia)格為國外同(tong)類產品的一半。是(shi)真正的高性價(jia)比產品。
尖端技術
同標準型(xing)
校(xiao)準(zhun)
X熒光分(fen)析方(fang)法是(shi)一種參考(kao)方(fang)法,校準是(shi)為得到定(ding)量的(de)結果(guo)所必(bi)須(xu)的(de)。XRF光譜儀通過比較(jiao)已知(zhi)標(biao)樣與未知(zhi)樣的光譜強度來得到定量分(fen)析的結果。其某元素的含量計算式(即校準曲線(xian))為:
C=D+EIC+FIC 2 (1)
式中,IC =f(I0),I0為(wei)原始強度(即原始道(dao)計(ji)數(shu)率),IC為處(chu)理(li)后(hou)強度(或修正后(hou)強度),D、E、F是由校(xiao)準(zhun)確定的系數。校(xiao)準(zhun)的方法(fa)是:用(yong)光譜(pu)儀測量一系列校(xiao)準(zhun)標準(zhun)樣品或有證標準(zhun)樣品的每種(zhong)元素(su)強度,利用(yong)回(hui)歸分(fen)析,例如最小二(er)乘法(fa),確定(1)的系(xi)數。
用已知含量的某單位鋁用碳素校(xiao)準樣(yang)品對光譜儀進行(xing)校(xiao)準,得到的數據如表1。
表(biao)1.某單位鋁用碳素校準(zhun)樣(yang)品校準(zhun)結果數據(ju)(ppm)
元(yuan)素(su) |
Na |
Si |
S(%) |
Ca |
V |
Fe |
Ni |
系數D |
-489.8 |
-66.93 |
-0.34 |
-276.9 |
-372.7 |
-158.1 |
-140.2 |
系數E |
0.9447 |
6.458 |
1.58 |
1.074 |
1.251 |
0.2932 |
0.854 |
系數F |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
相關系(xi)數γ |
0.9612 |
0.9971 |
0.9956 |
0.9833 |
0.9977 |
0.9561 |
0.9742 |
這些校準(zhun)曲線的相關系(xi)數γ 均大于0.95,表示DM2500光譜儀的線性誤差極小。
重復性
對某(mou)單(dan)位鋁用碳素樣(yang)品中(zhong)的某(mou)一樣(yang)品,進(jin)行(xing)11次(ci)測量,得到各元素(su)的重復性數(shu)據如表2。
表2.某(mou)單位鋁用碳素樣品重復性測量數據分析(ppm)
元素 |
Na |
Si |
S(%) |
Ca |
V |
Fe |
Ni |
理論值 |
111.5 |
223 |
1.56 |
311.8 |
410 |
242 |
242 |
平均示值 |
105.80 |
225.36 |
1.55 |
312.52 |
412.91 |
232.61 |
235.02 |
最大示(shi)值 |
108.09 |
228.23 |
1.56 |
315.88 |
418.04 |
234.13 |
237.35 |
最小示(shi)值(zhi) |
102.4 |
223.19 |
1.54 |
310.3 |
410.69 |
231.48 |
233.87 |
極(ji)差 |
5.69 |
5.04 |
0.02 |
5.58 |
7.35 |
2.65 |
3.48 |
示值標準(zhun)偏差 |
2.11 |
2.13 |
0.0071 |
2.21 |
3.01 |
0.96 |
1.41 |
3倍(bei)示值(zhi)標(biao)準偏(pian)差(儀器重(zhong)復性限) |
6.33 |
6.39 |
0.021 |
6.63 |
9.03 |
2.88 |
4.23 |
GB/T176的重復性限 |
15 |
23 |
0.033 |
15 |
15 |
9 |
8 |
YS/T63.16允許差(cha) |
35 |
45 |
0.10 |
30 |
25 |
25 |
20 |
DM2500與YS/T63.16的符合性 |
遠優 |
遠優(you) |
優 |
遠優 |
優 |
遠優 |
優 |
注:粉末(mo)壓片樣品。在X射線(xian)源為半功率(lv)(25W),測量時間(jian)為300s的條件(jian)下,連續進行11次(ci)測(ce)量(liang)所得的結果。
從上(shang)表可知:光(guang)譜儀的重復性限均小于行業標準YS/T63.16—2019《鋁用碳素(su)材料檢測方(fang)法 第16部(bu)分:元(yuan)素(su)含量的測定 波(bo)長色(se)散X射線熒(ying)光光譜分析方法》所要(yao)求的重復性限。所以(yi),DM2500光(guang)譜儀可實(shi)現優異的重復性(xing),完全滿足YS/T63.16—2019有關重復性的(de)要求。
主要(yao)技術指標(biao)
測量(liang)元(yuan)素 |
可選擇B(5)~Zn(30)中的任意元素 |
X射線管 |
電壓:≤50keV,電(dian)流:≤2mA,功率≤50W,靶(ba)材:Ag(Mo、Rh、Pd、Cr等可選(xuan)) |
探測器(qi) |
SDD,有效(xiao)面積:20mm2,分辨(bian)率:≥123eV,計數(shu)率(lv):≤2Mcps,入射(she)窗:AP3.3 |
檢測限(300s) |
C:2.0%,N:1.0%,O:0.5%,F:0.15%, Na:30ppm,Mg:20ppm,Al:10ppm,Si/P/S/Cl:2.0ppm,K-Zn:3.0ppm |
測量(liang)范圍 |
檢測(ce)限的3倍~99.99%。 |
重復(fu)性限 |
滿足幾乎所有(you)元素測定XRF光譜法標(biao)準(zhun)的相關要求,如(ru):GB/T 176—2017,GB/T3286.11-2022,GB/T4333.5-2016,YS/T63.16—2019,GB/T24198-2009等 |
系統測量時間 |
1~999s,推薦值為300s |
測量氛圍 |
自(zi)充氣系(xi)統或氦氣 |
使(shi)用條(tiao)件(jian) |
環境溫度:5~40℃,相對濕度:≤85%(30℃),供電電源:220V±20V,50Hz,≤200W |
尺寸(cun)及(ji)重量 |
540mm×500mm×450mm,35kg |
注:檢出限與樣品基體有關。