DM1230
X熒光(guang)鋁(lv)硅分(fen)析儀
與鈣(gai)鐵分析儀同時(shi)使用(yong)、
實(shi)現生料配料的率(lv)值控制
以不到一半的(de)投資實現
X熒光(guang)多元素分(fen)析儀的(de)功(gong)能(neng)
采用(yong)
能(neng)量色(se)散(san)X射(she)線熒光(guang)(EDXRF)分析技術
本公(gong)司專有的分譜(pu)技術(shu)、次級濾(lv)光片、
超薄鈹(pi)窗正比計數管、特殊的光路系統
符合標準
GB/T176
JB/T11145
JC/T1085
概述
DM1230 X熒光鋁硅(gui)分析儀是本公(gong)司集數(shu)十年(nian)X熒(ying)光分(fen)析儀的研(yan)究經驗,在公司原有(you)的DM系列鈣鐵分析儀、X熒(ying)光(guang)多元素分析儀(yi)(yi)等的基礎上研制推出的分析儀(yi)(yi)器(qi)。它(ta)采用能(neng)量色散X射線熒光(guang)(EDXRF)分(fen)析技術,薄鈹(pi)窗充(chong)氣正比(bi)計數管、次級濾(lv)光(guang)片、特(te)殊的(de)光(guang)路系(xi)統、硬(ying)質樣(yang)品比(bi)例法和(he)本公(gong)司(si)專有的(de)分(fen)譜技術,從而使小(xiao)型儀器也能準確(que)測量相鄰的(de)輕元素(如水泥生料中(zhong)的Al、Si),其測量準確度達(da)到進口同類(lei)儀(yi)器(qi)的水平。其符合國家(jia)標準GB/T 176—2017《水泥化學分析(xi)方法》的相關要(yao)求,符合行業標準(zhun)JC/T1085—2008《水泥用X射線熒(ying)光分析儀(yi)》,符合行業(ye)標準JB/T11145—2011《X射線熒光光譜儀》。只要壓個片就能在5分鐘內測出生(sheng)料、熟料或水泥中Al2O3、SiO2的濃(nong)度。
圖0 EDXRF分析技術原理圖(tu)
目前(qian)國內大(da)多數(shu)水(shui)泥企(qi)業(ye)已使用X熒光鈣鐵(tie)分(fen)析儀來測量(liang)生料等物料中(zhong)CaO、Fe2O3的含量,但Al2O3、SiO2含量(liang)(liang)的(de)測(ce)量(liang)(liang)卻很少是用X熒光(guang)分(fen)析(xi)儀的,而Al2O3、SiO2含量的即時準確得到(dao)與CaO、Fe2O3對水(shui)泥生產的質量控(kong)制同(tong)樣(yang)(yang)重要(yao),只有(you)同(tong)時(shi)即時(shi)準確得到這四個(ge)氧化物的含量才(cai)能真正實現生料的率(lv)值控(kong)制。當本儀(yi)(yi)器與本公司的鈣鐵分析儀(yi)(yi)一起(qi)使用時(shi)可(ke)用同(tong)一個(ge)樣(yang)(yang)品,且由于按本儀(yi)(yi)器要(yao)求(qiu)制備出的樣(yang)(yang)品比(bi)按鈣鐵分析儀(yi)(yi)要(yao)求(qiu)的好,所以還能提高CaO、Fe2O3的含量(liang)測量(liang)準確度,與DM2100型X熒光多(duo)元素分(fen)析儀相(xiang)比(bi),雖(sui)然使(shi)用(yong)麻煩了(le)一(yi)點,但價格不(bu)到一(yi)半,且由于結構簡(jian)單可靠性更高(gao)了(le)。
DM1230 X熒(ying)光鋁硅分析儀的2021款(kuan)除保持了原有DM1230的優點外(wai),還進行了以下重大改進:
(1) 大(da)屏幕(mu)彩色(se)觸摸式(shi)液(ye)(ye)晶屏代替原(yuan)黑白液(ye)(ye)晶屏和鍵盤,改善(shan)了(le)用戶的操(cao)控體(ti)驗。
(2) 新的大規模集成(cheng)電路(lu)CPU代(dai)替(ti)原老的如80C31等CPU,沒有數(shu)據總線與外部設備或外部芯片(pian)直接連(lian)接,極大地提高了系統的可靠性,基本消滅了死機現象。
(3) 用貼片(pian)電(dian)路(lu)代替原立式電(dian)路(lu),減少了(le)電(dian)路(lu)板的(de)面(mian)積,并(bing)能(neng)大規模機械(xie)化(hua)生(sheng)產,極大地(di)提(ti)高了(le)硬件(jian)的(de)可靠(kao)性,使儀器的(de)返修率降到最底。
(4) 用(yong)熱敏打印機代替了原來的針打印機。
(5) 用最新(xin)設(she)計的(de)采用CPLD,FPGA,DSP等技術的多道脈(mo)沖幅度(du)分析器及可變(bian)增益放(fang)大(da)器代(dai)替原單道脈(mo)沖幅度(du)分析器及固定(ding)增益放(fang)大(da)器,極大(da)地提高了儀(yi)器的長(chang)期穩定(ding)性(xing)。
DM1230 X熒(ying)光(guang)鋁硅分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)2021款的推出是本公司實現(xian)自我超越的成(cheng)果,必將使本公司在(zai)X熒光分析(xi)儀領域保(bao)持(chi)長(chang)久的國(guo)內領先地位。
適用(yong)范(fan)圍
主(zhu)要用于水(shui)泥生(sheng)料(liao)(liao)、熟料(liao)(liao)、水(shui)泥和原料(liao)(liao)等物料(liao)(liao)中Al2O3、SiO2的濃度(du)測量。可單機使用(yong),也可聯(lian)機使用(yong)為生料(liao)配料(liao)自動控制系統提供檢測訊號,形(xing)成“分(fen)析儀---微機---皮帶(dai)秤”自動控制(zhi)系統(tong)。
除水泥工業外,也可用于發電廠(chang)、磚瓦廠(chang)、冶金、石油(you)、地質礦(kuang)山等部門的(de)固體(ti)、液體(ti)和粉末樣(yang)品(pin)中Al2O3、SiO2的濃度(du)測量。
特(te)點
快速(su)同(tong)時––所(suo)需測量元素同(tong)時快(kuai)速分析,一般幾分鐘給(gei)出濃度(du)結果。
高準(zhun)確度––采用EDXRF技術,低(di)本底薄(bo)鈹窗正比(bi)計數管,次級濾光片。極大地提高了(le)儀器(qi)的(de)靈敏度(du)和峰(feng)背比(bi),具出色的(de)重(zhong)復性(xing)(xing)和再現性(xing)(xing),極高的(de)準(zhun)確度(du)。
向下照射(she)––采用X射線(xian)向(xiang)下照射系統(tong),杜絕(jue)了樣(yang)品粉(fen)(fen)末污染損壞探測系統(tong)的可能(neng),特別適合水泥生熟料等粉(fen)(fen)末樣(yang)品。
長期穩(wen)定––采用可(ke)變(bian)增益數(shu)字(zi)多道(dao),有增益調整、比(bi)率校正、偏差修(xiu)正等(deng)功能,具(ju)極好的長期穩定性。
環保節能(neng)––射線防護達(da)豁免要(yao)求。分析時不接觸不破壞樣品,無(wu)污染(ran),無(wu)需化學(xue)試(shi)劑,也不需要(yao)燃燒。
使(shi)用方便––觸(chu)摸(mo)屏操(cao)作。樣品(pin)粉碎壓片放入儀器后(hou)只需(xu)按[啟動]鍵(jian)即可,真正實現(xian)一鍵(jian)操作。
高可(ke)靠(kao)性––一(yi)體(ti)化設計,集成(cheng)化程度高,環境適(shi)應能力(li)強,抗干擾能力(li)強,可靠性高。
數據傳存––可(ke)(ke)存儲(chu)海量數據(ju),支持掉電后保持數據(ju),并(bing)(bing)可(ke)(ke)隨時(shi)查看(kan)。并(bing)(bing)可(ke)(ke)將存儲(chu)數據(ju)傳(chuan)輸到PC機。
高性價比––無需氣體、真空、稀(xi)釋,運行(xing)維護(hu)成本極(ji)低。價格為國外(wai)同(tong)類產品的(de)一半,適應我國國情。
校準
X熒(ying)光(guang)分析(xi)方法(fa)(fa)是一種參考方法(fa)(fa),校準是為得(de)到定(ding)量的(de)(de)結果所必須的(de)(de)。XRF光(guang)譜儀通過比較已知標樣與未(wei)知樣的(de)光(guang)譜強度(du)來得到(dao)定(ding)量分(fen)析的(de)結果。其某元素(su)的(de)濃度(du)計算式(即校準曲線(xian))為:
C=D+EIC+FIC 2 (1)
式中,IC =f(I0),I0為原始強度(du),IC為處理后(hou)強度,D、E、F是由校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)確定的(de)系數。校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)的(de)方法是:用(yong)(yong)光譜儀測量(liang)一系列校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)標準(zhun)(zhun)樣(yang)品(pin)(pin)或有證(zheng)標準(zhun)(zhun)樣(yang)品(pin)(pin)的(de)每(mei)種(zhong)元素(su)強度,利用(yong)(yong)回歸分析,例如(ru)最小二(er)乘法,確定(1)式的(de)系數。
用已知濃度的11個水(shui)泥生料標準樣品對光譜(pu)儀進行校準,得到的數據如表1。
表1.水泥生料標準(zhun)(zhun)樣品校準(zhun)(zhun)結果(guo)數(shu)據
成分 |
Al2O3 |
SiO2 |
系數D |
-2.89 |
-3.46 |
系數(shu)E |
57.14 |
32.41 |
系數(shu)F |
0 |
0 |
相(xiang)關系數γ |
0.9912 |
0.9980 |
這(zhe)些校(xiao)準曲線的相關(guan)系數γ均大于0.99,表示DM1230 X熒光鋁硅分析儀的(de)線性誤差極小(xiao)。
重復(fu)性
對同一水泥生料樣品,進行11次測量(liang),得(de)到各元素的重復性數(shu)據(ju)如表2。
表2.生料(liao)標準樣品重復性(xing)測(ce)量數據(ju)分析(%)
成分 |
Al2O3 |
SiO2 |
標準值 |
1.46 |
10.75 |
平均示值(zhi) |
1.1.35 |
10.64 |
最大示值 |
1.47 |
10.72 |
最小示值 |
1.24 |
10.56 |
極差 |
0.23 |
0.16 |
示值標準偏差 |
0.0650 |
0.0461 |
3倍示值標準偏差 |
0.195 |
0.138 |
GB/T176的重(zhong)復性限 |
0.20 |
0.20 |
DM1240與國標的符合性 |
優 |
優 |
按國家標準GB/T 176—2017《水泥化(hua)學分析方(fang)法》的重復(fu)(fu)性(xing)要求,光譜儀的重復(fu)(fu)性(xing)必須(xu)滿足:其示值標準(zhun)偏差的3倍不大(da)于(yu)GB/T176的(de)重復(fu)性限。從表2可以看出(chu)DM1230 X熒光鋁(lv)硅分析儀可以(yi)實現優異的重復性。
主要技術指標
X射線管 |
電(dian)壓:≤10keV,電流:≤0.5mA,功率:≤5W |
探測器(qi) |
超薄(bo)鈹窗(chuang)正比計(ji)數管(guan) |
測(ce)量范圍 |
Al2O3、SiO2分析(xi)范(fan)圍(wei)均可調節,通過校準選定(ding) |
測量范圍(wei)寬度 |
Al2O3max—Al2O3min≤5%,SiO2 max—SiO2 min≤7% |
測量精(jing)度 |
S Al2O3≤0.07%,SSiO2≤0.07% |
符合標準 |
GB/T 176—2017,JC/T1085—2008,JB/T11145—2011等 |
系統測量時間 |
100s、200s、300s,可選,推薦值:300s |
使用條件 |
環境溫度:5~40℃,相對濕度:≤85%(30℃),供電電源:220V±20V,50Hz,≤50W |
尺寸及重量 |
470mm(W)× 365mm(D)× 130mm(H),15kg |